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介电温谱测试介绍：
一、性能特点：
测试频率20Hz～2MHz，10mHz步进
测试电平10mV～5V, 1mV步进
基本准确度0.1%
高达200次/s的测量速度
320×240点阵大型图形LCD显示
五位读数分辨率
可测量22种阻抗参数组合
四种信号源输出阻抗
10点列表扫描测试功能
内部自带直流偏置源
外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)
电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
V、I测试信号电平监视功能
图形扫描分析功能
20组内部仪器设定可供储存/读取
内建比较器,10档分选及计数功能
多种通讯接口方便用户联机使用
2m/4m测试电缆扩展(选件)
中英文可选操作界面
可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
二、主要用途：
无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
三、温控装置：
试验温度范围：-196°C---1500°C（温度范围可选）
升温速率匀速可调
测度精度：0.5°C
温度波动度：3°C
