铁电测试系统既可适用于压电陶瓷材料居里温度、纵向压电应变常数(静态)、强场介电性能、热释电系数、品质因数及机电耦合系数等;如增加高压放大器模块，也可实现铁电材料的电学测试； 配合高低温测试环境同时可以测量不同环境温度下的材料性能参数。该系统可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、块体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。为一体的综合测试系统。为目前国内研究压电陶瓷材料铁电材料全面的测试设备。模块化设计具有无与伦比的强大扩展性。

设备内置完整的专用工控计算机主机、测试版路、运算放大器、数据处理单元等，包括专用工控计算机主板、CPU(i3或更高)、RAM(4G或更大)、硬盘(120G固态硬盘)、网卡、USB接口、VGA接口、预装Windows7操作系统、铁电分析仪专用测电试软件等。

产品优势：

优势一：可测量压电陶瓷居里温度、静态压电常数

优势二：测量压电材料介电性能-1KHZ下的介电常数及介质损耗测试

优势三：可测量压电材料积分电荷法热释电系数测试

优势四：可测量压电陶瓷的品质因数及机电耦合系数

优势五：可选配不同的测试装置进行不同环境下的压电陶瓷参数测试

优势六：本仪器可配合高压放大器实现压电及铁电材料的综合测试

测量铁电材料电滞回线的方法通常有两种：冲击检流计描点法和 Sawyer-Tower电路法。第二种方法可用超低频示波器进行观察以及用xy函数记录仪进行记录，简便迅速，故人们常常采用。

采用Sawyer-Tower电路准静态测试铁电陶瓷材料电滞回线的测量原理图（GB/T6426-1999）如图4.5-30所示，系统绝缘电阻不小于108Ω，超低频高压源输出电压峰值为0~5KV、频率为0.1Hz的正弦波。运算放大器输入阻抗不小于109Ω。标准电容器Co的直流电阻不小于109Ω，一般容量为10~30μF。分压电阻R1和R2总阻值不小于5MΩ，补偿电阻Rs根据不同材料选择不同的电阻值。为了避免空气电击穿，将试样要浸没在硅油中，根据不同材料和要求可在不同温度下测量，测量时要求试样温度均匀，控温误差不大于2℃，试样采用全电极、半极化试样，推荐试样尺寸为直径d不大于20mm，厚度t不大于1mm，试样应保持清洁、干燥。

HV一超低频高压源；F一函数记录仪；A一运算放大器；K1一高压开关；K2一普通低压开关；Cx一试样；Co一标准电容器；R1、R2一分压电阻；Rs一可调补偿电阻

因为标准电容器的容量Co远大于试样的电容量Cx，所以高压源输出电压几乎全部加在样品上，因此，X轴上的电压正比于试样两端的电压，而Co上的电压（即Y轴电压）正比于Cx的电荷Q，记录仪上测得的曲线就是试样的极化强度P和电场强度E的关系曲线，即电滞回线，如图4.5-10所示。

测出样品的电滥回线之后，即可计算该材料的剩余极化强度Px和矫频场强应Ec，计算公式如下

式中，Q为电压为零时之总电荷，C；C。为标准电容器的电容量，F；Vy为从原点至E=0处之y轴电压，V；Sy为函数记录仪的y轴灵敏度，V/m；ry为从原点到E=0处之y轴读数，m；A为试样面积，m2；Vx为样品两端电压，V；Sx为函数记录仪的X轴灵敏度，V/m；rx为从原点到P=0处的X轴读数，m；d为高压源的输出分压比；t为试样厚度，m。

若要测量某铁电材料的自发极化强度Ps，可将测得的电滞回线的线性部分外推（或做切线）与y轴（极化强度P轴）交于Ps点，此点的读数便是自发极化强度。