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高温介电温谱测量系统可测量陶瓷、薄膜、半导体等块状材料，可与WK6500系列、agilent/keysight E4990A、同惠TH28系列阻抗分析仪集成使用，组成一套集实验方案设计、测量、数据输出、数据分析的高温介电温谱测量系统。可同时测量及输出频率谱、电平谱、偏压谱、温度谱的测量数据与图形。测试频率为DC-30MHz。
方法/步骤
使用4根测试线缆连接高温介电测试夹具与LCR仪器，使用扳手工具拧紧线缆上的螺帽，连接顺序按照LCR仪器面板上的标示相对应连接即可。
高温介电测试夹具与LCR仪器在测量前，需完成开短路校准，以确保两者之间测试相吻合，避免测试数据误差。在介电测试夹具上下电极开路情况下，在LCR仪器面板上完成开路校准。
待开路校准完成后，使用短路垫片，连接介电测试夹具的上下电极，形成短路状态，然后在LCR仪器面板上触发短路校准。
待LCR仪器与高温介电测试夹具完成开短路校准后，将测试的样品使用镊子放入介电测试夹具的上下电极之间。
打开高温介电测量系统软件，依次进行-设备配置---测量方案设计-样品信息输入—实验方案设计。最后，开始样品的高温介电温谱自动测量。
介电温谱测试系统主要用途：
无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
